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芯片高溫高濕高壓試驗箱用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化

飽和加速壽命老化試驗箱用途：使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。

hast非飽和試驗箱圓型門設計，能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制，鎖牢固才能啟動試驗機，箱內(nèi)壓力超壓時具有自動泄壓或手動泄壓。計時安裝，LED數(shù)字型計時器，當鍋內(nèi)溫度達到后計時器確保試驗*，計時從表格1驅動。

端子hast老化試驗箱在很多行業(yè)被廣泛的應用、使用。適合的行業(yè)為電子、電器、通訊、箱表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等，在這些行業(yè)中，來檢測制品的檢測質量之用。

hast高壓加速老化試驗箱 又稱為高壓加速老化試驗箱，實驗室光源曝露試驗因為可以在一個高壓加速老化試驗箱中同時模擬大氣可見環(huán)境中的光、氧、熱和降雨等因素

高壓加速壽命試驗箱廠家用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。